Oorzaaken van overspanningen

Overspanningen worden volgens hun oorzaken ingedeeld in twee categorieën:

  • LEMP (Lightning Electromagnetic Pulse) – overspanningen die worden veroorzaakt door atmosferische invloeden (bijv. directe blikseminslag, elektromagnetische bliksemvelden).

  • SEMP (Switching Electromagnetic Pulse) – overspanningen die worden veroorzaakt door schakelingen (bijv. uitschakelen van kortsluitingen, schakelen van lasten tijdens het bedrijf).


Overspanningen die ten gevolge van een onweer optreden, worden veroorzaakt door directe/nabije inslag of door inslag op afstand van de bliksem


Directe of nabije inslagen zijn blikseminslagen in de bliksembeveiligingsinstallatie van een gebouw, in de directe omgeving ervan of in de in het gebouw ingebrachte elektrisch geleidende systemen (bijv. laagspanningsvoeding, telecommunicatie- en besturingsleidingen).
De stootstromen en stootspanningen die daardoor ontstaan betekenen voor wat hun amplitude en hun energiegehalte betreft een bijzonderen bedreiging voor het te beveiligen systeem.

Bij een directe of nabije blikseminslag ontstaan de overspanningen door de spanningsdaling aan de aardingsweerstand en de daaruit resulterende potentiaalverhoging van het gebouw ten overstaan van de verre omgeving. Dit vormt de grootste bedreiging van elektrische installaties in gebouwen.

De karakteristieke parameters van de resulterende stootstroom (amplitude, stroomstijgingssnelheid, ladingsinhoud, specifieke energie) zijn met de vorm van de stootstroomgolf 10/350 µs beschrijfbaar (afbeelding Voorbeelden van proefstootstromen). Deze zijn in de internationale, Europlese en nationale normering als controlestroom vastgelegd voor componenten en apparatuur ter bescherming bij directe inslagen.

Afgezien van de spanningsdaling aan de aardingsweerstand ontstaan overspanningen in de elektrische installatie en in de met haar verbonden systemen en apparatuur door de inductiewerking van het elektromagnetische bliksemveld.

De energie van deze geïnduceerde overspanning en van de daaruit resulterende impulsstromen is aanzienlijk geringer dan die van de directe bliksemstootstroom en wordt daarom alleen met de stootstroomgolf 8/20 µs beschreven (afbeelding Voorbeelden van proefstootstromen).
Componenten en apparatuur die stromen uit directe bliksemslagen niet moeten geleiden, worden daarom met stootstromen 8/20 µs getest.



Programmaoverzicht